机械冲击试验箱模拟碰撞对样品的损坏测试相当准确

该试验目的是考核微电路承受机械冲击的能力。即考核微电路承受突然受力的能力。在装卸、运输、现场工作过程中会使微电路突然受力。如跌落、碰撞时微电路会受到突发的机械应力．这些应力可能引起微电路的芯片脱落、内引线开路、管壳变形、漏气等失效。 
    试验条件：试验时微电路的壳体应刚性固定在试验台基上，外引线要施加保护。对微电路的芯片脱出方向、压紧方向和与该方向垂直的方向各施加五次半正弦波的机械冲击脉冲．冲击脉冲的峰值加速度取值范围—般取为4900m／s2~294 000m／s2(500g~30 000g)脉冲持续时间为0.1ms—1.0ms，允许失真不大于峰值加速度的20％。

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